半導体・IC
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高度な電源機能を備えた包括的な半導体テスト ソリューション
半導体製品は、集積回路 (IC)、光電子デバイス、ディスクリートデバイス、センサーの 4 つのカテゴリに分類されます。当社のテスト ソリューションには、パッケージ化された IC、半導体レーザー、光電照明デバイス、ダイオード、三極管、電界効果管、サイリスタ、IGBT、ヒューズ、リレー、その他のディスクリート デバイスやセンサーなど、さまざまなデバイスが含まれます。半導体レーザーやその他のデバイスの信頼性の高いテストを保証するために、電源CC/CV優先設定とループ速度調整機能を備えており、起動時のオーバーシュートを効果的に抑制し、半導体DUTを保護します。 -
弊社の半導体検査用電源のメリット
安定した正確な出力: 当社の電源は、電圧と電流の安定した正確な出力を保証します。これは、テストエラーやDUTの損傷を防ぐために重要です。
迅速な応答とプログラマブルな制御: 当社の電源は高速な応答時間とプログラマブルな制御機能を備えており、テスト要件に応じて電圧と電流の出力を迅速に調整できます。自動テストプロセス用にプログラムすることもできるので、時間と労力を節約できます。
複数の保護機能：当社の電源には過電流、過電圧、過熱保護などのさまざまな保護機能が搭載されており、テストプロセス中のDUTとテスト機器の安全を確保します。
高精度の電流および電圧測定: 当社の電源は、DUT の正確な電圧および電流測定に不可欠な高精度の電流および電圧測定機能を提供します。
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