半導体/IC
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高度な電源機能を備えた包括的な半導体テストソリューション
半導体製品は、集積回路（IC）、光電子デバイス、ディスクリートデバイス、センサーの4つのカテゴリーに分類されます。当社の試験ソリューションは、パッケージIC、半導体レーザー、光電照明デバイス、ダイオード、三極管、電界効果管、サイリスタ、IGBT、ヒューズ、リレー、その他のディスクリートデバイスやセンサーなど、幅広いデバイスを網羅しています。半導体レーザーなどのデバイスの信頼性の高い試験を保証するために、当社は電源CC/CV 優先設定とループ速度調整機能を備えており、起動時のオーバーシュートを効果的に抑制し、半導体 DUT を保護します。 -
当社の半導体試験用電源の利点
安定した正確な出力: 当社の電源装置は、テストエラーや DUT の損傷を防ぐ上で極めて重要な、安定した正確な電圧と電流の出力を保証します。
高速応答とプログラム可能な制御：当社の電源は、高速応答とプログラム可能な制御機能を備えており、試験要件に応じて電圧と電流出力を迅速に調整できます。また、自動試験プロセス向けにプログラムすることもでき、時間と労力を節約します。
複数の保護機能: 当社の電源には、過電流、過電圧、過熱保護などのさまざまな保護機能が搭載されており、テストプロセス中の DUT とテスト機器の安全性を確保します。
高精度の電流および電圧測定: 当社の電源は、DUT の正確な電圧および電流測定に不可欠な高精度の電流および電圧測定機能を提供します。
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